14 и 15 июня более 500 метрологов и ученых соберутся на конференцию, посвященную 175-летию ВНИИМ имени Менделеева.

Настоящей метрологической  и научной Меккой станет Санкт-Петербург с  14 по 15 июня, сообщает пресс-служба Комитета по науке и высшей школе. Более 500 метрологов, известных ученых, специалистов в области технического регулирования, руководителей вузов и научных организаций  из России, стран Европы, США,  Японии, Кореи, Китая примут участие в Международной научно-технической конференции «175 лет ВНИИМ имен Менделеева и Национальной системе обеспечения единства измерений». Организаторы конференции – Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) и Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им.Д.И.Менделеева. 

В течение двух дней будет представлено  более 150 докладов по самым актуальным темам: метрология и точные измерения как драйвер отечественных инновационных технологий,  метрология в медицине, экологии, энергетике,  создание опережающего научного задела для развития цифровой экономики,  развитие Национальной системы обеспечения единства измерений и реализация государственной Стратегии обеспечения единства измерений РФ до 2025 года, зарубежный опыт, роль и место России в международном метрологическом сообществе и т.д.